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TC660涂層測(cè)厚儀探頭選用技術(shù)數(shù)據(jù)

發(fā)布時(shí)間：2020-11-26 17:03瀏覽次數(shù)：

HRC華銳昌TC660涂層測(cè)厚儀是一款便攜式涂層測(cè)厚儀，它能快速，無損，精確地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量，被廣泛地用于制造業(yè)，金屬加工業(yè)，化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域，深圳市華銳昌科技有限公司作為專業(yè)的涂層測(cè)厚儀生產(chǎn)廠家，產(chǎn)品質(zhì)量可靠、售后專業(yè)，為客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品及服務(wù)。http://www.471411.com/

TC660涂層測(cè)厚儀采用了兩種測(cè)厚方法：磁性法、渦流法，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性涂鍍層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電涂層的厚度。

此款涂層測(cè)厚儀采用了液晶顯示屏，超清屏幕顯示，帶背光，在光線很暗的場(chǎng)合依然正常使用，儀器界面全中文菜單，簡(jiǎn)單明了，具有單次、連續(xù)、二次測(cè)量方式。

為了更好的使用TC660涂層測(cè)厚儀，下表列出了涂層測(cè)厚儀探頭選用的技術(shù)數(shù)據(jù)，方便大家給儀器選擇適用的探頭，涂層測(cè)厚儀TC660選用探頭技術(shù)數(shù)據(jù)表：

探頭		F400	F1	F1/90	F10	N400	N1	CN02
測(cè)量原理		磁性				渦流
測(cè)量范圍（μm）		0～400	0～1250		0～10mm	0～400	0～1250	10～200
測(cè)量精度μm	一點(diǎn)校準(zhǔn)	±[(1～3)%H+0.7]	±（3%H+1）		±（3%H+10）	±（3%H+1）	±（3%H+1.5）	±(3%H+1)
測(cè)量精度μm	二點(diǎn)校準(zhǔn)	±（1～3％H+0.7）	±[(1~3)%H+1]		±[(1～3)%H+10]	±[(1～3)%H+1]	±[(1～3)%H+1.5]	---
低限分辨率		0.1	0.1		1	0.1	0.1	1
最小曲率半徑(mm)		(凸)1	1.5	平直	10	1.5	3	僅為平面
最小面積直徑(mm)		￠3	￠7		￠40	￠4	￠5	￠7
基本臨界厚度(mm)		0.2	0.5		2	0.3	0.3	無限制

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